IOL間歇壽命試驗系統(tǒng)HK-IOL-16H 參考價：面議
測試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode（小電流器件）進行連續(xù)工作壽命和間歇工作壽命試驗。間歇工作壽命試驗利用芯片的反復開啟和關(guān)閉引起的反復高溫...
IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗系統(tǒng) 參考價：面議
IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗系統(tǒng)華科智源-功率循環(huán)老化設備主要是針對IGBT/SIC的封裝可靠性行進行實驗,通過控制實驗條件再現(xiàn)IGBT封裝的主要兩種失效方...
SIC碳化硅器件參數(shù)測試儀HUSTEC-3000 參考價：面議
SIC碳化硅器件參數(shù)測試儀HUSTEC-3000功能及主要參數(shù)： 適用碳化硅二極管、IGBT模塊\\MOS管等器件的時間參數(shù)測試。
HUSTEC-DC-2020分立器件測試儀 參考價：面議
HUSTEC-DC-2020分立器件測試儀設備擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。系...
MOS管動態(tài)參數(shù)測試儀ITC57300 參考價：面議
MOS管動態(tài)參數(shù)測試儀ITC57300ITC57300是美國ITC公司設計生產(chǎn)的高集成度功率半導體分立器件動態(tài)參數(shù)測試設備，采用測試主機+功能測試頭+個性板的測...
大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀HUSTEC-1200A-MT 參考價：面議
大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀HUSTEC-1200A-MT華科智源IGBT電參數(shù)測試儀，可用于多種封裝形式的IGBT的測試，還可以測量大功率二極管、IGBT模塊...
IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224 參考價：面議
IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224該設備用于功率半導體模塊（IGBT、FRD、肖特基二極管等）的動態(tài)參數(shù)測試，以表征器件的動態(tài)特性，通過特制測試夾具的連接，實...
IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀HUSTEC-1600A-MT 參考價：面議
IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀HUSTEC-1600A-MT華科智源功率器件測試儀，測試二極管 、IGBT，MOS管，SIC器件靜態(tài)參數(shù)，并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線，...
博達微FS-Pro半導體參數(shù)測試系統(tǒng) 參考價：面議
博達微FS-Pro半導體參數(shù)測試系統(tǒng)是一款功能全面、配置靈活的半導體器件電學特性分析設備，在一個系統(tǒng)中實現(xiàn)了電流電壓 (IV) 測試、電容電壓 (CV) 測試、...
吉時利全自動半導體參數(shù)分析儀 參考價：面議
吉時利全自動半導體參數(shù)分析儀4200A-SCS參數(shù)分析儀加快各類材料、半導體器件和*工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能...
力鈦科（Letak）半導體靜動態(tài)測試系統(tǒng) 參考價：面議
LET-2000D力鈦科（Letak）半導體靜動態(tài)測試系統(tǒng)是滿足IEC60747-8/9、JESD24標準，旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數(shù)評估、驅(qū)動設計、...
同惠TH511半導體C-V特性分析儀 參考價：面議
同惠TH511半導體C-V特性分析儀TH510系列半導體C-V特性分析儀是同惠電子針對半導體材料及器件生產(chǎn)與研發(fā)的分析儀器。TH510系列半導體C-V特性分析儀...
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